對航空插頭故障產品和正常產品進行高溫試驗，對高溫冷卻后的樣品進行絕緣試驗。結果表明，故障產品在航空插頭中含有足夠量的水。同時，水的存在和高溫會降低航空插頭的絕緣電阻。
然后在航空插頭故障產品的拆卸實驗中，發現航空插頭剩余的內部絕緣部件被淺藍色腐蝕，只有一層金屬薄膜。在航空插頭失敗之前和之后，拆卸密封膠的絕緣電阻測試結果表明，航空插頭的絕緣合格性在失敗后被拆卸，密封膠測試其絕緣電阻是正常的。
所有金屬部件的航空插頭EDS測試結果表明，金屬條金屬部件表面鍍銀的銅鋅合金和其他金屬部件不含銅、鋅和銀。淺藍色腐蝕和遷移的銀膜是金屬與金屬接觸的組件。所有組件的絕緣和紅外分析結果表明，絕緣組件包括聚酯和硅膠，PVC(包裝膠)分別用于離子色譜分析包裝膠和正常包裝脫膠產品。結果表明，氯離子含量失敗的產品包裝膠是正常產品的1.8倍。氯離子在潮濕環境中的存在將大大加速金屬部件的腐蝕和離子導電路徑的形成。
